Elektronenmikroskopie in der Festkrperphysik [Paperback]

I: Elektronenmikroskopische Untersuchung verfahren.- 1. Konventionelle Elektronenmikroskopie: Elektronenoptische und ger?tetechnische Grundlagen.- 2. Konventionelle Elektronenmikroskopie: Bildentstehung.- 3. Hochaufl?sungs-Elektronenmikroskopie.- 4. H?chstspannungs-Elektronenmikroskopie.- 5. Raster-Elektronenmikroskopie: Elektronenoptische und ger?tetechnische Grundlagen.- 6. Raster-Elektronenmikroskopie: Physikalische Grundlagen der Kontrastentstehung.- 7. Indirekte Oberfl?chenabbildung durch Abdruck- und Dekorationstechnik.- 8. Spezielle Verfahren zur Direktabbildung von Oberfl?chen: Emissions-Elektronenmikroskopie, Spiegel-Elektronenmikroskopie.- 9. Analytische Elektronenmikroskopie: Kombination von abbildenden und spektrometrischen Methoden.- 10. Bildverarbeitung mit optischen und elektronischen Verfahren.- II: Anwendungen in der Festk?rperphysik.- 11. Gitterdefekt-Abbildung durch elektronenmikroskopischen Beugungskontrast.- 12. Elementare Vorg?nge bei der plastischen Verformung.- 13. Mikroprozesse des Bruches.- 14. Elektronenmikroskopische Fraktographie.- 15. Morphologie der Polymere.- 16. Defekte in Halbleitern und Bauelementestrukturen.- 17. Molekulare Prozesse auf Kristalloberfl?chen.- 18. Wachstum und Struktur d?nner Schichten.- 19. Versetzungsstrukturen in Korngrenzen und Phasengrenzen.- 20. Dom?nenstruktur ferroelektrischer und ferromagnetischer Festk?rper.- Anhang 1: Theoretische Grundlagen des elektronenmikroskopischen Beugungskontrastes (einschl. Computersimulation der Abbildung von Kristalldefekten).- K. Scheerschmidt.- Anhang 2: Durchstrahlungs-Elektronenmikroskopie: Pr?parationstechnischer ?berblick.- H. Bartsch.- Literatur?bersicht zur Elektronenmikroskopie.Springer Book Archives