I. Kristallographische Grundlagen.- 1. Symmetrieelemente.- 2. Symmetrieabh?ngige Punktlagen.- 3. Hintereinanderschaltung von Symmetrieoperationen.- 4. Kristallklassen, Kristallsysteme und Laue-Gruppen.- 5. Nomenklatur der Kristallklassen.- 6. Zusatzsymmetrieelemente und Raumgruppen.- 7. Wahl der Elementarzelle und Bravais-Gitter.- II. Beugung von R?ntgenstrahlen in Kristallen.- 1. Die kinematische Theorie.- 2. Reziprokes Gitter und Braggsche Gleichung.- 3. Der Einflu? der Kristallstruktur auf die R?ntgeninterferenzen.- 4. Das integrale Reflexionsverm?gen.- 5. Einflu? der Absorption.- 6. Einflu? der Temperatur auf die Intensit?t der R?ntgeninterferenzen.- 7. Anisotrope Temperaturfaktoren.- 8. Die Symmetrie des reziproken Gitters.- a) Symmetriezentrum.- b) Drehachsen und Spiegelebenen.- c) Drehachsen und Drehinversionsachsen.- d) Schraubenachsen und Gleitspiegelebenen.- 9. Basiszentrierte Raumzentrierte und Fl?chenzentrierte Gitter Integrate Ausl?schungsgesetze.- III. Die wichtigsten Aufnahmeverfahren.- 1. Das Drehkristallverfahren.- 2. Das Wei?enberg-Verfahren.- Die Wei?enberg-Aufnahmen h?herer Schichten (Normalstrahl-, ?qui-Inklinations- und Flat-Cone-Verfahren).- Der Lorentz-Faktor f?r das Wei?enberg-Verfahren.- 3. Die B?rger-Pr?zessionsmethode.- Der Lorentz-Faktor f?r die Pr?zessionsmethode.- 4. Das DeJong-Bouman-Verfahren.- 5. Messung der Intensit?ten der R?ntgeninterferenzen.- a) Photographische Verfahren.- b) Diffraktometerverfahren.- IV. Die Anwendung von Fourier-Reihen bei der Kristallstrukturanalyse.- 1. Die Elektronendichte.- 2. Die Patterson-Funktion.- V. Absolutbestimmung der Strukturamplituden und Symmetriezentrumtest Wilson Statistik.- VI. Phasenbestimmung der Strukturamplituden.- 1. Die Auswertung der Patterson-Funktion.- a) Die Schweratommethode.- b) Bildsuchfunktionen.- c) Die Fourier-Transformations- und die Faltmolek?lmethode.- 2. Experimentelle Phasenbestimmung.- a) Anomale Streuung.- b) Der isomorphe Ersatz.- 3. Die direkten Methoden der Phaló'