I. Einleitung.- II. Si(Li)-R?ntgendetektor-System.- 1. Totzeit-Korrektur der R?ntgenme?strecke.- 2. Die Ansprechwahrscheinlichkeit des Si(Li)-R?ntgendetektors.- III. Nachweis von Spurenelementen.- 1. Bestimmung der Nachweisgrenzen.- 2. Suche nach superschweren Elementen in Pechblende.- IV. Wirkungsquerschnitte f?r L-Unterschalen-Ionisierung durch Protonen.- V. Emission von R?ntgenstrahlung nach Beschu? dicker Targets mit schweren Ionen.- VI. Winkelverteilung der L-R?ntgenstrahlung nach Ionisation mit einem unpolarisierten Teilchenstrahl.- VII. Zusammenfassung.- Anhang 1.- Anhang 2.Springer Book Archives