ShopSpell

Untersuchung von Rntgenstrahlung nach Anregung durch schwere Ionen [Paperback]

$45.99     $59.99    23% Off      (Free Shipping)
100 available
  • Category: Books (Science)
  • Author:  Cleff, Bernd
  • Author:  Cleff, Bernd
  • ISBN-10:  3531027301
  • ISBN-10:  3531027301
  • ISBN-13:  9783531027302
  • ISBN-13:  9783531027302
  • Publisher:  VS Verlag f?r Sozialwissenschaften
  • Publisher:  VS Verlag f?r Sozialwissenschaften
  • Binding:  Paperback
  • Binding:  Paperback
  • Pub Date:  01-Mar-1978
  • Pub Date:  01-Mar-1978
  • SKU:  3531027301-11-SPRI
  • SKU:  3531027301-11-SPRI
  • Item ID: 100935432
  • List Price: $59.99
  • Seller: ShopSpell
  • Ships in: 5 business days
  • Transit time: Up to 5 business days
  • Delivery by: Jul 17 to Jul 19
  • Notes: Brand New Book. Order Now.
I. Einleitung.- II. Si(Li)-R?ntgendetektor-System.- 1. Totzeit-Korrektur der R?ntgenme?strecke.- 2. Die Ansprechwahrscheinlichkeit des Si(Li)-R?ntgendetektors.- III. Nachweis von Spurenelementen.- 1. Bestimmung der Nachweisgrenzen.- 2. Suche nach superschweren Elementen in Pechblende.- IV. Wirkungsquerschnitte f?r L-Unterschalen-Ionisierung durch Protonen.- V. Emission von R?ntgenstrahlung nach Beschu? dicker Targets mit schweren Ionen.- VI. Winkelverteilung der L-R?ntgenstrahlung nach Ionisation mit einem unpolarisierten Teilchenstrahl.- VII. Zusammenfassung.- Anhang 1.- Anhang 2.Springer Book Archives
Add Review