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Elektronenmikroskopische Methodik [Paperback]

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  • Category: Books (Technology & Engineering)
  • Author:  Schimmel, Gerhard
  • Author:  Schimmel, Gerhard
  • ISBN-10:  3642490239
  • ISBN-10:  3642490239
  • ISBN-13:  9783642490231
  • ISBN-13:  9783642490231
  • Publisher:  Springer
  • Publisher:  Springer
  • Binding:  Paperback
  • Binding:  Paperback
  • Pub Date:  01-Jan-2012
  • Pub Date:  01-Jan-2012
  • SKU:  3642490239-11-SPRI
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  • Item ID: 100767187
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1. Elektronenstrahlen.- 2. Einf?hrung in die Theorie des Mikroskopes.- 2.1. Wechselwirkung zwischen Strahlung und Materie.- 2.2. Die Bildentstehung im Durchstrahlungsmikroskop.- 3. Beugung am Raumgitter.- 3.1. Geometrische Theorie.- 3.1.1. Der Amplitudenfaktor.- 3.1.2. Das reziproke Gitter.- 3.1.3. Die Braggsche Gleichung.- 3.2. Anwendung der geometrischen Theorie auf R?ntgen- und Elektronenstrahlen.- 3.2.1. R?ntgenstrahlen.- 3.2.2. Beugung von Elektronenstrahlen.- 3.2.3. Beugung an d?nnen Kristallen.- 3.3. Intensit?t der Beugungsreflexe.- 3.3.1. Streuverm?gen der Atome.- 3.3.2. Strukturfaktor.- 3.3.3. Fl?chenzahl.- 3.4. Aufnahmeverfahren.- 3.4.1. Vorbemerkungen.- 3.4.2. Die verschiedenen Strahleng?nge.- 3.5. Auswertung von Beugungsaufnahmen.- 3.5.1. Polykristalline Substanzen (Pulveraufnahmen).- 3.5.2. Unterschiede zu R?ntgenfeinstrukturaufnahmen bei Pulveraufnahmen.- 3.5.3. Der Korngr??eneinflu?.- 3.5.4. Einkristalluntersuchung.- 3.5.5. Indizierung von Einkristall-Beugungsaufnahmen.- 3.6. Oberfl?chenbeugung.- 4. Beugungskontraste.- 4.1. Allgemeines.- 4.2. Interferenzschlieren oder Extinktionslinien.- 4.2.1. Dunkelfeldabbildungen.- 4.3. Streifen gleicher Neigung und Dicke.- 4.4. Gitterfehler.- 4.5. Moir?-Muster.- 4.6. Ausblick auf die dynamische Theorie.- 5. Aufl?sungsgrenze, Gesichtsfeld und Sch?rfentiefe.- 5.1. Die Aufl?sungsgrenze.- 5.2. Das Gesichtsfeld.- 5.3. Die Sch?rfentiefe.- 6. Abdruckverfahren.- 6.1. Der Abdruck als Abbildung.- 6.2. Kontrastverh?ltnisse.- 6.3. Schr?gbedampfung (Beschattung).- 6.4. Herstellung der wichtigsten Abdrucke.- 6.4.1. Einfach-Abdrucke.- 6.4.2. Doppel- und Mehrfach-Abdrucke.- 6.5. Aufl?sungsgrenze von Abdruckpr?paraten.- 6.6. Anwendungsbeispiele.- 6.7. Zielpr?parationen.- 6.8. Dekorationsverfahren.- 7. Zeitaufl?sung.- 8. Kombination von Beobachtungsverfahren.- 8.1. Grunds?tzliches.- 8.2. Beispiele.- 9. Korngr??en und Korngr??enverteilungen.- 9.1. Mikroskopische Korngr??enanalysen.- 9.1.1. Lichtmikroskopie.- 9.1.2. Elektronenmikrosklăb
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