Me- und Prftechnik [Paperback]

1 Einleitung.- Literatur zu Kapitel 1.- 2 Analoge integrierte Schaltungen.- 2.1 Informationsgehalt von Datenbl?ttern.- 2.2 Allgemeine Messungen.- 2.2.1 Eingangs- und Ausgangswiderst?nde.- 2.2.2 Messung von komplexen Widerst?nden.- 2.2.3 Messung von kleinen Str?men.- 2.2.4 Messung von kleinen Spannungsdifferenzen.- 2.2.5 Zeit- und Frequenzmessung.- 2.2.6 St?rspannungen.- 2.2.7 Klirrfaktormessungen.- 2.3 Typenbezogene Messungen.- 2.3.1 Operationsverst?rker.- 2.3.2 NF-Verst?rker.- 2.3.3 FM-ZF-Verst?rker mit Demodulator.- 2.3.4 AM-Empf?ngerschaltungen.- 2.3.5 Induktive Ann?herungsschalter.- 2.3.6 Hall-Schaltkreise.- 2.3.7 Probleml?sungen bei rechnergesteuerten Me?pl?tzen.- 2.4 Pr?fstrategien und Pr?fmittel.- 2.4.1 Me?pl?tze mit IEC-Bus-gesteuerten Me?ger?ten.- 2.4.2 Gro?testsysteme.- 2.4.3 Kleintester.- 2.5 Literatur zu Kapitel 2.- 3 Testen digitaler integrierter Schaltungen.- 3.1 Einleitung.- 3.2 Fehlerursachen und Fehlermodelle.- 3.2.1 Physikalische Fehlerm?glichkeiten.- 3.2.2 Strukturorientierte Fehlermodelle.- 3.2.3 Funktionsorientierte Fehlermodelle.- 3.3 Testmustererzeugung.- 3.3.1 Testmuster f?r kombinatorische Schaltungen.- 3.3.2 Minimierung von Testmengen.- 3.3.3 Testmuster f?r sequentielle Schaltungen.- 3.4 Testfreundlicher Entwurf.- 3.4.1 Passive Testhilfe.- 3.4.2 Aktive Testhilfen.- 3.5 Testen digitaler Speicher.- 3.5.1 Besonderheiten beim Speichertest.- 3.5.2 Speichertestmuster.- 3.6 Testautomaten.- 3.7 Literatur zu Kapitel 3.- 4 Zuverl?ssigkeit integrierter Schaltungen.- 4.1 Zuverl?ssigkeitsbegriffe und statistische Beschreibungsweisen.- 4.2 Ausfallmechanismen und ihre Aktivierbarkeit durch Belastung.- 4.2.1 Potentielle Zuverl?ssigkeit eines Bauelements.- 4.2.2 Methoden der Lebensdauerpr?fung.- 4.2.3 Beschleunigung durch erh?hte Temperatur.- 4.2.4 ?bersicht ?ber lebensdauerbestimmende Mechanismen.- 4.3 Reale Zuverl?ssigkeit.- 4.3.1 Einflu? technischer Materialien und Fertigungsbedingungen auf die Zuverl?ssigkeit, Prinzipien von Pr?fma?nahmen.- 4.3.2 Auswirl³ƒ