Technisch-wissenschaftliche Abhandlungen der Osram-Gesellschaft [Paperback]

Inhalts.- Der Einflu? des Eigenmagnetfeldes auf die Transporterscheinungen in einem Plasma.- Elektrische Leitf?higkeit und W?rmeleitf?higkeit eines Xenon-Hochdruckplasmas.- Zur Integration der Elenbaas-Hellerschen Differentialgleichung.- Bemerkung zur Behandlung gewisser gaskinetischer Integrale.- Spektrale Strahlst?rkeverteilung und Energiebilanz von Xenon-Hochdrucklampen hoher Leistung.- Ein neuer Typ von Xenonlampen.- ?ber den Bogenmechanismus an Metallkathoden in Hochdruckentladungen.- Physik und Technik der Blitzr?hren unter besonderer Ber?cksichtigung der Anwendung in der Kinematographie.- Ein neues Verfahren zur Messung des Raumpotentials in Niederdruckentladungen.- Anodenfallmessung in Niederdruckentladungen.- Entstehung und Stabilisierung des Brennflecks in der Niederdruckentladung.- ?ber das Verhalten von Oxydkathoden in der Niederdruckentladung.- ?ber den Verbrauch der Emissionsmasse von Oxydkathoden in der Niederdruckgasentladung.- Zur Frage der elektrischen Leitf?higkeit der Oxydkathode.- Die elektrische Leitf?higkeit von Bariumcerat (BaCeO3).- Zur Temperaturabh?ngigkeit der elektrischen und photometrischen Daten von Leuchtstofflampen.- Die Stromversorgung und Steuerung der Xenon-Hochdrucklampen.- Zur Thyratron-gesteuerten D?mmerungsschaltung von Leuchtstofflampen: I. Vorg?nge an der Z?ndhilfe  II. Stabilit?tsbetrachtungen an der Steuercharakteristik in Abh?ngigkeit von Vorschaltger?ten, Netzspannung usw.- ?ber den Einflu? der Bahn-Quantisierung der Elektronen im Magnetfeld auf die longitudinale Widerstands?nderung und den Hall-Koeffizienten von nichtpolaren Halbleitern.- ?ber Fremdionen in Ionen-Kristallen.- ?ber die Wertigkeit von Eu-Ionen in SrO.- Bemerkungen zur Theorie der glow-Kurven.- ?ber die strahlungslosen ?berg?nge der Elektronen im Gitter der Sulfidphosphore bei Anregung im langwelligen Ausl?ufer der Absorption.- ?ber das kurzzeitige Nachleuchten von Phosphoren bei Rechteck-Impuls-Anregung.- ?ber die sogenannte Druckzerst?rung und DruckverflÃF