Testverfahren in der Mikroelektronik Methoden und Werkzeuge [Paperback]

Die Akzeptanz mikroelektronischer Systeml?sungen in industriellen und privaten Anwendungsbereichen h?ngt in starkem Ma?e von der Fehlerfreiheit und Zuverl?ssigkeit der eingesetzten elektronischen Schaltungen ab. Dies ist durch Verbesserungen in der Fertigung allein nicht mehr zu gew?hrleisten. Die Komplexit?t heutiger VLSI-Schaltungen hat dabei den Anteil der Testkosten an den gesamten Herstellungskosten eines digitalen Systems in rasanter Weise steigen lassen. Das Buch gibt einen ?berblick ?ber die Algorithmen, Methoden und Werkzeuge, um diesen Herausforderungen zu begegnen. Die mathematisch exakte Formlierung der Testaufgabe zieht sich dabei als roter Faden durch das ganze Buch,von der Fehlermodellierung bis hin zum testfreundlichen Schaltungsentwurf.Die Akzeptanz mikroelektronischer Systeml?sungen in industriellen und privaten Anwendungsbereichen h?ngt in starkem Ma?e von der Fehlerfreiheit und Zuverl?ssigkeit der eingesetzten elektronischen Schaltungen ab. Dies ist durch Verbesserungen in der Fertigung allein nicht mehr zu gew?hrleisten. Die Komplexit?t heutiger VLSI-Schaltungen hat dabei den Anteil der Testkosten an den gesamten Herstellungskosten eines digitalen Systems in rasanter Weise steigen lassen. Das Buch gibt einen ?berblick ?ber die Algorithmen, Methoden und Werkzeuge, um diesen Herausforderungen zu begegnen. Die mathematisch exakte Formlierung der Testaufgabe zieht sich dabei als roter Faden durch das ganze Buch,von der Fehlermodellierung bis hin zum testfreundlichen Schaltungsentwurf.Inhaltsverzeichnls.- 1 Einf?hrung und Abgrenzung.- 1.1 Testen im Produktionsablauf.- 1.2 Begriffskl?rung und Abgrenzung.- 1.2.1 Verifikation.- 1.2.2 Validierung.- 1.2.3 Identifikation.- 1.2.4 Testen.- 2 Fehlermodelle.- 2.1 Funktionsfehlermodell.- 2.2 Haftfehlermodell.- 2.2.1 Haftfehler in Bipolarschaltungen.- 2.2.2 Haftfehler in MOS-Schaltungen.- 2.2.3 Fehler?quivalenz und Fehlerdominanz bei Haftfehlern.- 2.3 CMOS-Unterbrechungsfehler.- 2.4 Verz?gerungsfehler.- 3 TestmulCž